晶振老化
來源:http://review-result.com 作者:admin 2012年04月05
晶體諧振頻率和諧振電阻都隨時(shí)間的延續(xù)而變化,這就是所說的老化,人們最關(guān)注的是諧振頻率隨時(shí)間的變化。
對(duì)AT切晶體來說,在晶體使用初期,老化主要受元件內(nèi)部應(yīng)力釋放影響,頻率向升高方向變化,而后期受電極膜吸附的影響,,其頻率按對(duì)數(shù)關(guān)系向降低方向變化,隨時(shí)間增加變化量逐漸降低,見圖4。為減小出廠時(shí)的老化率,生產(chǎn)商大都對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行了預(yù)老化。
對(duì)老化指標(biāo),一般都規(guī)定產(chǎn)品的老化水平,而它并非明確的試驗(yàn)條件,這種“水平”,是通過生產(chǎn)有計(jì)劃的抽檢而獲得的??赡苣承﹤€(gè)別晶體元件比規(guī)定水平會(huì)差,這是允許的。
目前電阻焊密封的石英晶體元件的老化率水平可以控制±5×10-6以下,對(duì)于普通精度產(chǎn)品(頻差大于±30×10-6)的應(yīng)用來說,老化指標(biāo)對(duì)元件工作影響并不是很重要,對(duì)于小公差(±0×10-6)以下)的晶體元器件來說老化是需要關(guān)注的指標(biāo)。
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